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發(fā)布時(shí)間:2010/11/18 來(lái)源: 銳峰先科技術(shù)有限公司 閱讀次數(shù):308
序 號(hào) | 品牌及型號(hào) | 名 稱 | 用 途 |
1 | DAGE 4000/5000/4000HS | 多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀 | 用于測(cè)試芯片金線/銅線的鍵合情況。 |
2 | Dage 7500VR/7600NT | X-光檢查機(jī) | 檢測(cè):內(nèi)部焊接,短路,氣孔,氣泡,裂紋,及異物檢查。 |
3 | Sonoscan D9500 C-SAM | 超聲波探測(cè)儀 | 檢測(cè):1.材料內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒,沉淀物;2.內(nèi)部裂紋;3.分層缺陷;4.空洞、氣泡。 |
4 | ULTRA TEC | 拋磨分析機(jī)、開封機(jī)、樣品制備鍍膜機(jī)、切割機(jī) | 用于芯片的樣品制備。 |
5 | BSET NT | 等離子清洗機(jī) | 去除外表面殘留的光刻膠, 有機(jī)污染物, 溢出的環(huán)氧樹脂等; 還可以對(duì)表面的性能進(jìn)行活化, 增加表面的焊接及封裝能力。 |
6 | BSET FA2000 RIE | 反應(yīng)離子刻蝕機(jī) | 主要用于微電子、光電子、通訊、微機(jī)械、新材料、能源等領(lǐng)域的器件研發(fā)和制造。 |
7 | FILMETRICS | 透明/半透明膜厚測(cè)試儀 | 用于測(cè)試各種透明半透明的膜厚。 |
8 | FAI | 紅外顯微鏡 | 通過(guò)樣品在液晶(Liquid Cristal)和熒光微型熱成像(FMI)的圖像,分析產(chǎn)品內(nèi)部的失效情況。 |
9 | TEA | 熱阻測(cè)試儀 | 測(cè)量半導(dǎo)體結(jié)溫以及穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)熱阻。 |
10 | ESD | 抗靜電測(cè)試儀 | 檢測(cè)集成電路、分立器件及Wafer等產(chǎn)品的抗靜電能力。 |
11 | SVS V2000 | 蒸發(fā),濺射鍍膜臺(tái) | 用于半導(dǎo)體工業(yè)生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室樣品制備時(shí),電介質(zhì)膜和其他半導(dǎo)體膜的蒸鍍工藝。 |
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