NETZSCH LFA 457 MicroFlash&\\#8482; 代表了當代激光閃射測量技術的最新進展。儀器為桌上型，溫度范圍 -100 ～ 1100℃。為了覆蓋這一溫度范圍，提供了兩種可自由切換的爐體。系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術使得用戶甚至可以在 -100℃ 的低溫下測量樣品背部的溫升曲線。系統(tǒng)也能夠測量較大體積的樣品（直徑 25.4mm），或使用內置的自動樣品切換器在一次升溫中對多個樣品進行測量。真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進行測量。樣品支架、爐體與檢測器的垂直式排布方便了樣品的切換，同時使得檢測信號擁有最佳的信噪比。LFA 457 的設計符合各類國際標準，如 ASTM E-1461，DIN EN 821 或 DIN 30905。 儀器特點:    低溫爐體：-125 ～ 500℃     高溫爐體：RT ～ 1100℃     熱擴散系數：0.01 ... 10 mm2/s     導熱系數范圍：0.1 ... 2000 W/（m＊K）     特殊樣品支架：根據用戶需要定制，用于測量粉末樣品、液態(tài)樣品或非標準尺寸的樣品。 NETZSCH LFA 457 MicroFlash&\\#8482; 擁有非常出色的儀器控制與分析軟件，在同類產品中頗為獨特。對于檢測器測得的溫度-時間曲線的分析方法，用戶能夠在超過 15 種不同模型中進行選擇，由此，幾乎對所有的應用場合，如金屬，陶瓷，聚合物，半透明材料或多層系統(tǒng)都能夠以最優(yōu)的方式進行分析。對大多數模型，都提供熱損耗與有限脈沖修正，這對高精度的測試至關重要。這些模型建筑在非線性回歸的基礎上，將整條測量曲線（在 500 至 15000 個數據點之間）納入計算。