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美國OMEGA  600SMD 離子污染測(cè)試儀600SMD

美國OMEGA 600SMD 離子污染測(cè)試儀

  • 價(jià) 格: 電議
  • 型號(hào):600SMD
  • 生 產(chǎn) 地:美國
  • 訪問:121次
  • 發(fā)布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

深圳儀高儀器公司

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SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更有效的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
  • 公司簡介

美國OMEGA  600SMD 離子污染測(cè)試儀
一.說明:
顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息,并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者,以做出不同的條件設(shè)定。
系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中,點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線圖表,并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后,最好的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來。
穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù),包括樣品代碼、客戶代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存最近輸入的測(cè)試液的濃度。
加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作SMD600 離子污染測(cè)試儀的重要因素,當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器,當(dāng)水溫超過130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘,操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F,這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周圍的溫度來調(diào)節(jié)的。
電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn),如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作,那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示。
化學(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn),從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。
自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定,那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。
RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件,只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后,系統(tǒng)才能進(jìn)行交互(目前尚未有此功能)。
測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來選擇最佳的測(cè)試液量,可選擇四種不同大小的測(cè)試槽(8”×8”,12”×12”,12”×18”,18”×18”)。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤式的噴水頭,這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。
液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度,這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。
二.操作原理:
SMD600離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。
在測(cè)試的開始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)最初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。
測(cè)試結(jié)束后,最后的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。
三.SMD600離子污染測(cè)試儀是先進(jìn)的儀器
SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更有效的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
四.特點(diǎn):
1.理器控制
2.?dāng)?shù)據(jù)條顯示,簡單方便
3.可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)
4.以曲線圖表的打印所有測(cè)試程序
5.自動(dòng)停止測(cè)試
6.加熱測(cè)試液以增加離子溶解度
7.測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性
8.快速測(cè)試
9.測(cè)試槽的大小可選擇
10.RS-232-C的電腦輸出端口(未有)
11.英制/公制的轉(zhuǎn)換

多年來,我們一直致力于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機(jī)構(gòu),半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!


儀高南儀器(深圳)有限公司

我公司是一精密測(cè)試儀器代理商,為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)獨(dú)家代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。以下是我集團(tuán)的其他主要產(chǎn)品:

美國INNOVX伊諾斯XRF-6500 RoHS分析儀

美國OMEGA 600SMD離子污染測(cè)試儀
美國UPA / VEECO非破壞性厚度測(cè)試儀
美國WALCHEM(禾威)電鍍藥液自動(dòng)添加系統(tǒng)
美國CECO PCB基材測(cè)試系統(tǒng)
美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)
美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品
美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測(cè)試儀

美國DICKSON溫濕度記錄儀

美國SPELLMAN 高壓電源供應(yīng)器
日本KETT磁感/高周波涂層測(cè)試儀

日本KYORITSU水質(zhì)離子測(cè)試包

英國JENWAY分光光度計(jì)

韓國SEC X-射線透視檢查儀
德國SCANDIA研磨 / 拋光器材及消耗品
德國WTW實(shí)驗(yàn)室 / 工業(yè)用水質(zhì)檢查系統(tǒng)

俄羅斯PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測(cè)厚儀

新加坡Qmax CIMS 特性阻抗測(cè)試儀


多年來,我們一直致力于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機(jī)構(gòu),半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!

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