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產(chǎn)品展示

納米粒度分析儀

點(diǎn)擊次數(shù):106發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

納米粒度分析儀

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:

產(chǎn)品型號:

簡單介紹:納米粒度分析儀N4Plus是采用激光法測超細(xì)顆粒的粒度分析儀,激光法測顆粒度,是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法,即利用運(yùn)動著的顆粒所產(chǎn)生的動態(tài) 的散射光,通過光子相關(guān)光譜分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析納米顆粒粒度,其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。納米粒度分析儀

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

納米粒度分析儀

納米粒度分析儀,激光粒度分析儀,粒度分析儀

技術(shù)參數(shù)
1.測量范圍: 3-3,000nm
2.測量時間:30-180秒
3.重現(xiàn)性: 優(yōu)于3%CV
4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個峰
5.精度: 2-5%
主要特點(diǎn)
1.是同類產(chǎn)品中采用六個角度(在0-900C角度范圍)檢測的儀器
2.獨(dú)有的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖,快速判別樣品類型

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聯(lián)系人:徐先生

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