雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀

全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 雙折射系數(shù)的線性解析度高達 0.01nm ； 可同時測量延遲軸和主軸兩個方向； 基于光學(xué)相位差的雙折射系數(shù)顯示； 一秒采樣時間； 應(yīng)用： 液晶顯示屏膜； 聚合物膜的取向； DVD 和 CD 光學(xué)系統(tǒng)組件； 由于薄膜和基材之間熱膨脹系數(shù)不同引起的應(yīng)力； 某些透明材料的內(nèi)部殘余應(yīng)力，如光學(xué)玻璃和塑料； 某些透明材料的熱應(yīng)力； 光彈性系數(shù)； 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-22( 自動測量線性和周向雙折射系數(shù)，高速型 )

雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀

特點： 可同時或獨立測量線性和周向雙折射系數(shù)； 無需樣品旋轉(zhuǎn)，即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數(shù)、圓周雙折射系數(shù)的旋轉(zhuǎn)角； 一秒采樣時間； 可選樣品旋轉(zhuǎn)臺； 二維或三維顯示 雙折射系數(shù)的線性解析度高達 0.01nm ； 可全自動操作； 應(yīng)用： 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射分布 ； 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射系數(shù)與電壓的關(guān)系； 電－光學(xué)器件 ( 如： Pockel 效應(yīng)、 Faraday 旋轉(zhuǎn)、 Kerr 旋轉(zhuǎn)等 ) ； 光學(xué)晶體研究； 聚合物膜研究； 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-30( 超高速型 ) 特點： ABR-30 可以實現(xiàn)雙折射系數(shù)的高速測量： 100 微秒； 維護成本極低； 二維或三維顯示； 可選樣品旋轉(zhuǎn)臺； 操作方便； 應(yīng)用： 在靜態(tài)和高速旋轉(zhuǎn)速度下進行光學(xué)儲存器件表征； 動態(tài)雙折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ； 對某些透明材料的熱沖擊； 動態(tài)光彈性系數(shù)； 光學(xué)相位調(diào)制器；