Hanwa ESD測(cè)試設(shè)備主要針對(duì)HBM、MM、CDM、TLP等常見模型進(jìn)行分析。
HCE-5000
緊湊型ESD測(cè)試機(jī)
 獨(dú)立的測(cè)試系疒統(tǒng)，攜帶忄便，空間占用率小，性價(jià)比高
 不用搭配其他PC或Curve tracer便可獨(dú)立完成HBM、MM和漏電測(cè)試
HED-C5000
CDM測(cè)試機(jī)
 符合JEDEC、ESDA、JEITA標(biāo)準(zhǔn)
 可快速轉(zhuǎn)換不同標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試
HED-T5000
TLP測(cè)試機(jī)
 用于獲取器件保護(hù)電路的相關(guān)參數(shù)特性
 為器件升級(jí)提供支持，縮短產(chǎn)品周期
HED-N5000
全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng)
 可以測(cè)試多達(dá)1024pin的器件
 占用空間小
 適用于ESD測(cè)試和latch-up測(cè)試，易捷測(cè)試技術(shù),.易捷測(cè)試技術(shù)|||MMESD測(cè)試設(shè)備
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,深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司，符合*新的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
HED-W5000M
晶圓ESD測(cè)試機(jī)
 高性價(jià)比的晶圓ESD測(cè)試案
HED-W5100D
全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)
 支持300mm晶圓ESD測(cè)試案
 測(cè)試效率高
 同時(shí)支持package測(cè)試



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