產(chǎn)品展示
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細內(nèi)容
高低溫沖擊試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。本箱用來測試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)，在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在*短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。此設(shè)備所應(yīng)用的行業(yè)非常廣泛，基本上有關(guān)工業(yè)產(chǎn)品都有用到，涉及的行業(yè)數(shù)不勝數(shù)，所以當試驗箱面對不同規(guī)格大小不一的樣品時，廣州精秀熱工設(shè)備有限公司也可以不同的變化設(shè)計出合適的尺寸及規(guī)格為顧客非標專業(yè)定制服務(wù)。本設(shè)備適用的對象包括金屬、塑料、橡膠、電子...等材料，可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。
技術(shù)參數(shù)：
型號：TST70W65/100W65/200W55/300W55
標稱容積：70/110/200/300 （L）
試驗方式：氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
高溫室性能：預(yù)熱上限溫度（+200℃）
高溫室升溫速率：（+70℃→+200℃≤20min）
低溫室性能：預(yù)冷下限溫度（-75℃）
低溫室降溫速率：（+70℃→-150℃≤80min）
試驗室溫度偏差：±2.0℃
試驗室高溫沖擊范圍：(+70℃→+150℃)
試驗室低溫沖擊范圍：(-10℃→-55℃)
試驗室溫度恢復(fù)時間：≤5min
試樣籃高低溫室轉(zhuǎn)換時間：≤10s
試樣擱架承載能力：30kg
試樣重量：7.5kg/10kg
樣品籃有效內(nèi)部尺寸（mm）：410*460*370 / 650*460*370 / 650*460*670 / 970*460*670
外部尺寸（mm）：1470*1850*1870 / 1710*1850*1870 / 1710*1850*1870 / 2030*1850*1870
使用環(huán)境：（溫度：5～35℃，相對濕度：≤85%RH，大氣壓力：86～106KPa）
外殼材料：雙面鍍鋅鋼板，表面噴塑處理
頂蓋材料：不銹鋼板SUS304
絕熱材料：硬質(zhì)聚氨脂+玻璃纖維棉
試驗箱構(gòu)成：高溫室、低溫室、驅(qū)動裝置、制冷機組
控制器：7寸 800*400點陣TFT彩色LCD顯示屏
控制器運行方式：定值方式
控制器設(shè)定方式：觸摸式（電壓）
設(shè)定范圍：根據(jù)設(shè)備的工作溫度范圍調(diào)整（上限+5℃，下限-5℃）
試驗室設(shè)定范圍：（沖擊上限+220℃，沖擊下限：-80℃）
控制方式：抗積分飽和PID，BTC配合調(diào)溫控制方式
電源：AC380V±10% 50HZ±10% 三相四線+保護地線
功率（kW）：36/38/40/42
重量（kg）:1400/1450/1500/1550
冷卻循環(huán)水：（水溫≤30；水壓：0.4～0.7MPa）
壓縮空氣：0.4～0.7MPa
安全裝置：漏電保護器、箱內(nèi)超溫保護器、風(fēng)機過熱保護器、壓縮機超壓、壓縮機過熱保護、樣品超溫保護、卻相機相序保護
功能模塊：
功能模塊：
1、此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)及測試區(qū)三部分，采用獨特的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，采用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測試。
2、采用原裝日制微電腦大型液晶（320*240dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。
3、高程式記憶容量，可設(shè)定儲存100組程式，循環(huán)設(shè)定9999cycles,每段時間設(shè)定999Hrs59Mins。
4、具有RS-232C通信介面裝置，可與電腦連線控制/編輯/記錄及十組動態(tài)鏈接（TIMER SINGAL RELAY）,使用便捷。執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可擇2 Zone 或3 Zone之功能。
5、具備全自動，高精度系統(tǒng)，任一機件動作，完全由P.L.C鎖定處理。
6、機件故障時，配自動線路及警示訊號，發(fā)現(xiàn)輸入電壓不穩(wěn)定時，具有緊急停機裝置。
高低溫沖擊試驗箱的試驗標準及執(zhí)行方法：
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；
GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；
GJB/T 150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。
應(yīng)用案例：
