產(chǎn)品展示
涂鍍層測(cè)厚儀
點(diǎn)擊次數(shù):650發(fā)布時(shí)間:2009/11/2 0:00:00
更新日期:1900/1/1 0:00:00
所 在 地:德國(guó)EPK
產(chǎn)品型號(hào):MiniTest1100/2100/3100/4100
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率 誤差 *小曲率半徑
(凸/凹) *小測(cè)量
區(qū)域直徑 *小基
體厚度 探頭尺寸
磁
感
應(yīng)
法 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
F2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
兩
用
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
電
渦
流
法 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
N2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm
N2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。