菲希爾油缸鍍層測厚儀 特點

• 用途廣泛的鍍層厚度測量儀，包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等。
• 通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.
• 配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點。
• 比例計數(shù)器可實現(xiàn)數(shù)千cps（每秒計數(shù)率）的高計數(shù)率。
• 從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
• 底部C型開槽的大容量測量艙  。

菲希爾油缸鍍層測厚儀 典型應用領域

• 測量線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
• 電子行業(yè)中接插件和觸點上的鍍層
• 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
• 電鍍鍍層，如大規(guī)模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠寶和鐘表工業(yè)。
• 測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚。
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  它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術的，目前正在申請的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結構上進行測量。

     在經濟上遠遠優(yōu)于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。

     具有強大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。