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產品展示

干涉顯微鏡、光切法顯微鏡等各種光學測量儀器

點擊次數:539發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

干涉顯微鏡、光切法顯微鏡等各種光學測量儀器

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:shanghai

產品型號:6JA

簡單介紹:干涉顯微鏡測量精密加工零件(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器,也可以用來測量零件表面刻線,鍍層等深度。

優(yōu)質供應

詳細內容

干涉顯微鏡配各種附件,還能測量粒狀,加工紋路混亂的表面,低反 射率的工件表面。同時還能將儀器安置在工件上,對大型工件表面進行測量。
儀器測量表面不平深度范圍為1~0.03微米,用測微目鏡和照相方法來評定▽10~▽14光潔度的表面。
本儀器適用于廠礦企業(yè)計量室,精密加工車間,也適用于高等院校,科學研究等單位。

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聯(lián)系人:鄒先生

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